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分辨率是掃描電鏡(SEM)重要的參數(shù)之一。分辨率越好,可以看到的特征尺寸越小。分辨率的好壞往往取決于聚焦在樣品上的電子束斑的直徑(即束斑尺寸)。
在非理想電子光學系統(tǒng)中,束斑尺寸會因像差而變大。什么是電子光學系統(tǒng)中的像差?它們?nèi)绾斡绊懯叱叽??在這篇博客中,將回答這些問題并進行深入的分析。
一個非常簡單的電子光學系統(tǒng)的例子
在之前的博客中,談到了鏡筒和透鏡組。通常,鏡筒由一組透鏡組成,這些透鏡具有約束電子束并將電子聚焦于樣品表面的功能。樣品上的束斑尺寸決定了電子顯微鏡的分辨率。但是,束斑尺寸是如何定義的呢?看看簡單的電子光學系統(tǒng),如圖 1 所示。
圖1:簡單的電子光學系統(tǒng)由一個位于頂部的電子光源及聚焦電子束到樣品表面的透鏡組成。
在這個系統(tǒng)中,我們知道電子源與透鏡之間的距離(物距)和透鏡與樣品之間的距離(像距)。像距通常也稱為工作距離,它隨樣品高度的變化而變化。像距與物距的比值給出了電子光學系統(tǒng)的放大倍數(shù)。
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